名称

原子力显微镜(Atomic Force Microscope)

型号

SPA400  日本精工

参数

样品最大尺寸为：φ35mm×10mm (H) 扫描器最大扫描范围为 XY：20μm，Z：2μm 扫描器分辨能力 XY：0.2nm, Z： 0.01nm XY 扫描电压/分辨率：±200V/18 bit，Z轴扫描电压/分辨率：±200V/21 bit 电流分辨率： 3-5

功能

应用聚合物材料研究、半导体研究、精密表面粗糙度评价、记录材料形貌及磁畴研究、生物技术

管理人

郑鸿浩