时间 2010年3月26日（星期五）下午3:00
地点 高分子大楼228 (学术报告厅)
报告题目：Electric Force Microscopy for Organic and Nano Electronic Material Characterization
报告人：陈立桅研究员，中科院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
Abstract: Scanning probe microscopy has become an indispensable tool in the characterization and manipulation of nano-meter scale materials and structures. With just slight instrumentation on commericially available systems, variations of atomic force microscopy can yield functional information in addition to topographical information, such as chemical, electrical, and magnetic properties. This seminar will introduce the principle of quantitative electrical force microscopy and demonstrate its applications in characterizing organic electronic materials and nano-electronic materials. Specific examples include the energy level alignment at pentacene/SiO2 interface, and the dielectric properties of individual single-walled carbon nanotubes.
工作经历：
副所长 中科院苏州纳米所 2009年12月至今
研究员, 执行主任 纳米研究国际实验室中科院苏州纳米所 2009年1月 至今
助理教授 化学与生物化学系 美国，俄亥俄大学 2004年8月 – 2008年12月
博士后 美国哥伦比亚大学与IBM T.J. Watson 研究中心 2001年11月– 2004年7月
教育经历 ：
博士 哈佛大学 化学与化学生物系 1997年9月-2001年7月
硕士 北京大学 化学与分子工程学院 1993年9月-1996年7月
学士 中国科学技术大学 材料科学与工程系 1988年9月-1993年7月
研究方向：
· 扫描探针显微术
· 材料、界面与器件
· 纳米－生物界面
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