2010年3月26号，应浙江大学高分子科学与工程学系陈红征教授的邀请，中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所副所长、纳米研究国际实验室执行主任陈立栀研究员访问了高分子系，并作了“Electric Force Microscopy for Organic and Nano Electronic Material Characterization”的学术报告，来自高分子系、化学系、材料系等的50多名师生聆听了报告。
陈立栀研究员于2001年7月在美国哈佛大学化学系获博士学位，2004年8月 – 2008年12月任美国俄亥俄大学化学与生物化学系助理教授，2009年1月以“百人计划”研究员名义引进至中科院苏州纳米所。陈立栀研究员是纳米材料领域的专家，尤其擅长利用扫描探针显微术来研究纳米材料的光电性能。在报告中，陈立栀研究员详细阐述了在普通的原子力显微镜（AFM）上加上电场，就可以用来表征纳米材料的表面态、直接观察纳米材料之间的光致电荷转移过程和机制、预估材料的电性能（如碳纳米管是金属性的还是半导体性的，纯度如何，各占多少比例，等等）。在场的师生们被报告中新颖的思路、巧妙的实验设计和严谨的推理所吸引，表示：“想不到AFM经过改造后，竟会开发出这么多功能。这在今后的科研中太有用啦！”。
在访问期间, 陈立栀研究员听取了高分子系有机半导体实验室的科研情况介绍，寻找进一步合作的切入点，并就双方今后进一步的合作进行了讨论。
在访问期间，陈立栀研究员和青年教师、学生进行了热烈的面对面的学术交流和讨论，提供了许多有益的建设性的建议和新颖的研究思路。
陈立栀研究员还参观了浙江大学高分子大楼，在参观中，他对浙大高分子系在有机光电材料领域的研究工作给予了高度的评价，还对实验室较完备的实验仪器和多学科交叉的学术氛围表示赞赏，非常愿意与浙江大学建立长期稳定的合作关系。
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